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NXP、EV用バッテリーの寿命と安全性を向上させる次世代バッテリーセル・コントローラーICを発表
NXP Semiconductorsは、EV用リチウムイオン電池やエネルギー貯蔵システムの寿命とバッテリーパックの安全性を向上させる次世代バッテリーセル・コントローラーIC「MC33774」を発表した。MC33774は、NXPのSmartMOS SOI (Silicon-on-Isolator)技術をベースとし、-40°Cから+125°Cの温度範囲で±0.8mVのセル測定精度となっており、ニッケル・マンガン・コバルト(NCM)とリン....
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