デンマークのNILT、3D計測とLiDAR向け光学プラットフォームを発表
・デンマークの光学部品メーカーNIL Technology (NILT)は7月13日、3D計測とLiDARで用いる近赤外線(NIR)向けの極めて高度な平面光学技術プラットフォームを発売すると発表した。薄い平面状で多機能な回折光学素子(DOE)プラットフォームの量産準備を既に整えた。このプラットフォームは市場にある既存のどのソリューションより優れた光学的性能と、コンパクト、高効率、量産可能といったメリットを提供する。
・NILTの....
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