パワーサイクル試験及び試験装置の開発・販売
概要
クオルテックは、多数のデバイスを同時に試験ができるなど、高性能なパワーサイクル試験機「パワーステーションＰＳ１０１」を開発しました。あらゆるパワー半導体のチップ温度をリアルタイムで測定、破壊原因を特定してデバイスを確保できるなど、多彩な機能、高い性能を備えています。
これまで、パワーサイクル試験では、デバイスの破壊原因の解析が困難、新デバイスの特性に応じた制御ができない、などの問題がありました。弊社では、自動車メーカーなど多数の受託試験を通じて、１００種類以上の制御方法を開発するなど、蓄積したノウハウをもとに、数々の問題を解決しました。顧客の要望に合わせて、受注生産で対応します。
これまで、パワーサイクル試験では、デバイスの破壊原因の解析が困難、新デバイスの特性に応じた制御ができない、などの問題がありました。弊社では、自動車メーカーなど多数の受託試験を通じて、１００種類以上の制御方法を開発するなど、蓄積したノウハウをもとに、数々の問題を解決しました。顧客の要望に合わせて、受注生産で対応します。
特徴
○Ｔｊ（ジャンクション温度）をリアルタイムでモニター可能
○最大１２デバイスまで同時に試験可能
○試験中に発生するデバイス破壊の前兆を検知、破壊原因を特定
○温度センサーが内蔵されていないデバイスでも温度を正確に測定
○電流、時間、温度の制御が柔軟にできる
○新開発のデバイスでも、特性に応じた制御が可能
◎デバイス開発・設計の効率化・スピード向上に寄与
○最大１２デバイスまで同時に試験可能
○試験中に発生するデバイス破壊の前兆を検知、破壊原因を特定
○温度センサーが内蔵されていないデバイスでも温度を正確に測定
○電流、時間、温度の制御が柔軟にできる
○新開発のデバイスでも、特性に応じた制御が可能
◎デバイス開発・設計の効率化・スピード向上に寄与
用途・実績
◆用途・適用範囲
対象デバイス：ＭＯＳＦＥＴ、ＧａＮ、ＳｉＣ、ＳＪＦＥＴ、ＩＧＢＴなどパワーデバイス
設定ＯＮ時間：０,５ｓｅｃ～２４０ｓｅｃ
設定冷却時間：０.５ｓｅｃ～１０００ｓｅｃ
設定サイクル数：１，０００，０００サイクル以上
冷却方法：水冷、空冷
印加電流：８００Ａ以下
デバイス温度モニター方式：熱電対、保護ダイオード、その他
◆実績
１号機は大手メーカーに納入済み。引き合いに応じて受注生産に対応中。
対象デバイス：ＭＯＳＦＥＴ、ＧａＮ、ＳｉＣ、ＳＪＦＥＴ、ＩＧＢＴなどパワーデバイス
設定ＯＮ時間：０,５ｓｅｃ～２４０ｓｅｃ
設定冷却時間：０.５ｓｅｃ～１０００ｓｅｃ
設定サイクル数：１，０００，０００サイクル以上
冷却方法：水冷、空冷
印加電流：８００Ａ以下
デバイス温度モニター方式：熱電対、保護ダイオード、その他
◆実績
１号機は大手メーカーに納入済み。引き合いに応じて受注生産に対応中。
その他価格等自由記入欄
「事例紹介」
http://www.qualtec.co.jp/case/reliability/post_31.php
http://www.qualtec.co.jp/case/reliability/post_31.php
