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本特勒引进光学测量技术
本特勒宣布引进光学测量技术来取代传统测量系统。该技术使用光学扫描仪，可快速精准地扫描成品并反复进行高精度测量。光学扫描仪提供测量的数字记录，可进行存储以用于快速检索和比较。通过将3D扫描与计算机设计模型进行比较，可识别工具磨损并进行必要的调整或更换。此外，还可对扫描仪生成的3D模型进行逆向工程，以用于CAD应用。(摘自2020年7月14日新闻)
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