ナノフォーカスCTスキャナnanotom mによるCTスキャンサービス
                
                                    概要
                        
                        樹脂成形品や電装部品の検査、開発素材の評価でお悩みではありませんか?
JMCは産業用CTスキャナ【phoenix nanotom m】を使った、
測定・検査サービスを提供しております。
CTスキャナとは物体を透過する"X線"を使って、
物体内部のさまざまな構造を可視化する装置のことです。
JMCが使用する【phoenix nanotom m】は、製品の内部検査、
内部・外部寸法の計測、製品の全形状データの取得を、
高精度で行なうことが出来ます。
また、非接触測定機や3Dデジタイザが苦手とする、
透明な製品、金属光沢を持った製品が測定可能です。
>>詳しくは、CTスキャンサービス専門サイトへ
https://www.jmc-ct.jp/
                    JMCは産業用CTスキャナ【phoenix nanotom m】を使った、
測定・検査サービスを提供しております。
CTスキャナとは物体を透過する"X線"を使って、
物体内部のさまざまな構造を可視化する装置のことです。
JMCが使用する【phoenix nanotom m】は、製品の内部検査、
内部・外部寸法の計測、製品の全形状データの取得を、
高精度で行なうことが出来ます。
また、非接触測定機や3Dデジタイザが苦手とする、
透明な製品、金属光沢を持った製品が測定可能です。
>>詳しくは、CTスキャンサービス専門サイトへ
https://www.jmc-ct.jp/
 
             
            特徴
                        
                        ▼装置・サービスの特長
1.微細な欠陥や構造を捉えることが可能
2.次世代の検出器である"フラットパネルディテクタ"を搭載し、
高精度かつ高速な測定、検査が可能
3.三次元測定機やデジタイザを組合わせた検査・測定にも対応
4.見積り提出や技術相談などに対して迅速に、丁寧に対応
                    1.微細な欠陥や構造を捉えることが可能
2.次世代の検出器である"フラットパネルディテクタ"を搭載し、
高精度かつ高速な測定、検査が可能
3.三次元測定機やデジタイザを組合わせた検査・測定にも対応
4.見積り提出や技術相談などに対して迅速に、丁寧に対応
 
             
            用途・実績
                        
                        ◆用途
phoenix nanotom mでは主に樹脂やセラミックスなどの、X線吸収率の低い製品のスキャンを得意としています。phoenix v|tome|x c に比べて出力は低いものの、より小さな焦点により高解像度な撮像を得ることが可能です。
本機は測定やリバースエンジニアリングの他に、研究開発などに利用されています。
▼透過能力
アルミ 20 mm
樹脂 100 mm
◆実績
▼金属製品
・鋳造品などの金属組織の分析
・電子回路の配線や接着状態の検査
・バッテリー内部の部品状態の可視化
・塗装が出来ない金属光沢を持つ製品の形状取得
▼樹脂製品
・繊維材料の引張り試験後の検査
・コネクタなど弱電部品の寸法測定
・エアポンプ周りのクラックなど欠陥検出
・ゴムパッキンと金属部品との密着度合の検査
・射出成形品に含まれるガラス繊維の密度や配向の解析
                                    
                
                                    phoenix nanotom mでは主に樹脂やセラミックスなどの、X線吸収率の低い製品のスキャンを得意としています。phoenix v|tome|x c に比べて出力は低いものの、より小さな焦点により高解像度な撮像を得ることが可能です。
本機は測定やリバースエンジニアリングの他に、研究開発などに利用されています。
▼透過能力
アルミ 20 mm
樹脂 100 mm
◆実績
▼金属製品
・鋳造品などの金属組織の分析
・電子回路の配線や接着状態の検査
・バッテリー内部の部品状態の可視化
・塗装が出来ない金属光沢を持つ製品の形状取得
▼樹脂製品
・繊維材料の引張り試験後の検査
・コネクタなど弱電部品の寸法測定
・エアポンプ周りのクラックなど欠陥検出
・ゴムパッキンと金属部品との密着度合の検査
・射出成形品に含まれるガラス繊維の密度や配向の解析
その他価格等自由記入欄
                        
                        ▼装置仕様
装置名:
phoenix nanotom m(GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ社製)
撮影サイズ:
φ240 mm x 250 mm, 3kg
最大X線管出力:
180 kV(ナノフォーカス)
限界解像度:
300 nm
限界検出能:
200 nm
検出器:
フラットパネルディテクタ
▼無料出張セミナー受付中
JMCでは、CTスキャンをビジネスに活かしたいと考えている
企業のみなさま向けに無料出張セミナーを行っております。
詳細は下記ウェブサイトよりお問い合わせください
>>CTスキャンサービス専門サイトへ
http://www.jmc-ct.jp/
                                    
                                    装置名:
phoenix nanotom m(GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ社製)
撮影サイズ:
φ240 mm x 250 mm, 3kg
最大X線管出力:
180 kV(ナノフォーカス)
限界解像度:
300 nm
限界検出能:
200 nm
検出器:
フラットパネルディテクタ
▼無料出張セミナー受付中
JMCでは、CTスキャンをビジネスに活かしたいと考えている
企業のみなさま向けに無料出張セミナーを行っております。
詳細は下記ウェブサイトよりお問い合わせください
>>CTスキャンサービス専門サイトへ
http://www.jmc-ct.jp/
 キーワード・画像検索はこちら
                        キーワード・画像検索はこちら
                         
                     AIナビはこちら
                        AIナビはこちら
                         ログイン
                        ログイン
                    



























 
                    




 
                            



 日本
 日本 03-4241-3907
                03-4241-3907
             
                 米国
 米国 メキシコ
 メキシコ ドイツ
 ドイツ 中国 (上海)
 中国 (上海) タイ
 タイ インド
 インド

